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2023 | OriginalPaper | Chapter

4. Eingebettete Kompressionsarchitektur für Testzugang

Authors : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Published in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Publisher: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Seit den letzten Jahren hat sich das Profil der funktionalen Anforderungen an ICs erheblich verändert. Die ICs sind nicht mehr nur für dedizierte Funktionen gedacht, sondern sie sind so konzipiert, dass sie mehrere umfassende Aufgaben gleichzeitig bewältigen können. Dies führt zu komplexen SoC-Designs, die mehrere verschachtelte Module enthalten und somit eine große Anzahl von Transistoren aufweisen.

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Eine solche nahtlose Integration wurde beispielhaft durch die Implementierung bestimmter Eingangsfilter zur Verarbeitung von STIL-formatierten Daten aus der TCL-Umgebung direkt realisiert.

Diese Längen werden aufgrund von Hardwarebeschränkungen angenommen; die Technik ist jedoch grundsätzlich für weitere Längen anwendbar.

Eine Zeile der Matrix wird als Eintrag des Wörterbuchs angenommen. Die Codewörter werden als CDWs und die Datenwörter als UDWs interpretiert.

Beachten Sie, dass die tatsächliche Implementierung bestimmte Merge-Operationen anwendet, um redundante Multiplexerstrukturen zu vermeiden.

Title: Eingebettete Kompressionsarchitektur für Testzugang
Authors: Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Publisher: Springer International Publishing
Book: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright Year: 2023
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_4