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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Wir schalten um auf Elektronenbeugung

verfasst von : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Erschienen in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Ziel

Ein großer Vorteil des Transmissionselektronenmikroskops ist es, dass auf einfache Weise zwischen Abbildung und Beugung sehr kleiner Strukturen in einer dünnen Probe umgeschaltet werden kann. Dadurch wird die Zuordnung von morphologischen und kristallografischen Materialeigenschaften möglich. Wir wollen erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit dieses Umschalten zwischen Abbildung und Beugung funktioniert. Schließlich wollen wir erläutern, welche materialwissenschaftlichen Erkenntnisse aus den Beugungsmustern erhalten werden können. Dazu ist es notwendig, einige kristallografische Grundkenntnisse zu vermitteln.

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Fußnoten
1
Wilhelm Conrad Röntgen, deutscher Physiker, 1845–1923, Nobelpreis für Physik 1901 (erster Physik-Nobelpreis).
 
2
Arnold Sommerfeld, deutscher Physiker, 1868–1951.
 
3
Max von Laue, deutscher Physiker, 1879–1960, Nobelpreis für Physik 1914.
 
4
Walter Friedrich, deutscher Biophysiker, 1883–1968.
 
5
Paul Knipping, deutscher Physiker, 1883–1935.
 
6
Clint Davisson, amerikanischer Physiker, 1881–1958.
 
7
Lester H. Germer, amerikanischer Physiker, 1896–1971.
 
8
William Henry Bragg und William Lawrence Bragg: australisch/englische Physiker (Vater und Sohn), 1862 – 1942 bzw. 1890 – 1971, Nobelpreis für Physik 1915.
 
9
Frederic Pearson Treadwell, amerikanisch-schweizer Chemiker, 1857–1918.
 
10
Ralph Walter Graystone Wyckoff, amerikanischer Kristallograph, 1897–1994.
 
11
William Hallowes Miller, britischer Kristallograph, 1801–1880.
 
12
Hans Boersch, deutscher Physiker, 1909–1986.
 
13
Seishi Kikuchi, japanischer Physiker, 1902–1974, entdeckte und erklärte 1928 die beschriebenen Bänder.
 
14
Leonhard Euler, schweizer Mathematiker, 1707–1783.
 
15
Paul Peter Ewald, deutscher Physiker, 1888–1985.
 
16
Erwin Schrödinger, österreichischer Physiker, 1887–1961, Nobelpreis für Physik 1933.
 
Literatur
1.
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2.
Friedrich, W.: Erinnerungen an die Entdeckung der Interferenzerscheinungen bei Röntgenstrahlen. Naturwissenschaften 36, 354–356 (1949)ADSCrossRef
3.
Schulze, G.E.R.: M. v. Laue und die Geschichte der Röntgenfeinstrukturuntersuchung. Krist. Techn. 8, 527–543 (1973)
4.
Davisson, C., Germer, L.H.: The scattering of electrons by a single crystal of nickel. Nature 119, 558–560 (1927)ADSCrossRef
5.
6.
Bragg, W.H., Bragg, W.L.: The reflections of X-rays by crystals. Proc. Royal Soc. London 88, 428–438 (1913)ADS
7.
Hahn, T. (Hrsg.): International Tables for Crystallography, vol. A, Space-Group Symmetry. Kluwer, Dordrecht (1996)
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9.
10.
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12.
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13.
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\([5.14]\) Doyle, P.A., Turner, P.S.: Relativistic Hartree-Fock X-ray and electron scattering factors. Acta Crystallogr. A 24, 390–397 (1968)
15.
Thomas, J., Gemming, T.: ELDISCA C# – a new version of the program for identifying electron diffraction patterns. In: Luysberg, M., Tillmann, K., Weirich, T. (Hrsg.) EMC 2008, Aachen, Bd. 1, S. 231–232. Springer, Berlin (2008)
16.
Williams, D.B., Carter, C.B.: Transmission Electron Microscopy, S. 299 ff. Springer, New York (2009)
17.
von Laue, M.: Materiewellen und ihre Interferenzen. Akad. Verl.-Ges. Geest & Portig, Leipzig (1948)
18.
Vincent, R., Midgley, P.A.: Double conical beam-rocking system for measurement of integrated electron diffraction intensities. Ultramicroscopy 53, 271–282 (1994)CrossRef
19.
Deininger, C., Mayer, J., Rühle, M.: Determination of the charge-density distribution of crystals by energy-filtered CBED. Optik 99, 135–140 (1995)
Metadaten
Titel
Wir schalten um auf Elektronenbeugung
verfasst von
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright-Jahr
2023
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Print ISBN: 978-3-662-66722-4

Electronic ISBN: 978-3-662-66723-1

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_5

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