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2023 | OriginalPaper | Chapter

7. Eingebettete Mehrkanal-Testkompression für Tests mit niedriger Pin-Anzahl

Authors : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Published in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Publisher: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Die neuesten Errungenschaften im Bereich Design und Herstellung von ICs ermöglichen völlig neue Anwendungsszenarien. Beispielsweise integriert die neueste Generation von elektronischen Steuergeräten eine große Anzahl von anspruchsvollen onboard ICs, um fortschrittliche Fahrerassistenzsysteme zu implementieren.

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Beachten Sie, dass eine maximale Scan-Kettenlänge von 1024 Elementen berücksichtigt wird.

Tab. 7.1

Industrielle Schaltkreisstatistiken für Hybride Kompression

Schaltkreis	#Scan -Elemente	#Scan-Ketten	#Testmuster	#Blöcke
Ethernet	10.038	5	1049	2
vga_lcd	12.983	14	1286	2
leon3	82.251	81	6332	11
Netcard	96.569	97	9939	12

Title: Eingebettete Mehrkanal-Testkompression für Tests mit niedriger Pin-Anzahl
Authors: Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Publisher: Springer International Publishing
Book: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright Year: 2023
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_7