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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

7. Eingebettete Mehrkanal-Testkompression für Tests mit niedriger Pin-Anzahl

verfasst von : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Erschienen in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Verlag: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Die neuesten Errungenschaften im Bereich Design und Herstellung von ICs ermöglichen völlig neue Anwendungsszenarien. Beispielsweise integriert die neueste Generation von elektronischen Steuergeräten eine große Anzahl von anspruchsvollen onboard ICs, um fortschrittliche Fahrerassistenzsysteme zu implementieren.

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Fußnoten
1
Beachten Sie, dass eine maximale Scan-Kettenlänge von 1024 Elementen berücksichtigt wird.
Tab. 7.1
Industrielle Schaltkreisstatistiken für Hybride Kompression
Schaltkreis
#Scan -Elemente
#Scan-Ketten
#Testmuster
#Blöcke
Ethernet
10.038
5
1049
2
vga_lcd
12.983
14
1286
2
leon3
82.251
81
6332
11
Netcard
96.569
97
9939
12
 
Metadaten
Titel
Eingebettete Mehrkanal-Testkompression für Tests mit niedriger Pin-Anzahl
verfasst von
Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Copyright-Jahr
2023
Buch
Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_7

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    Bildnachweise