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2023 | OriginalPaper | Chapter

2. Integrierte Schaltkreise

Authors : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Published in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Publisher: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Dieses Kapitel führt die grundlegenden Prinzipien des IC-Designs und -Tests ein. Darüber hinaus werden Messungen vorgestellt, die sicherstellen, dass das spätere IC-Design ein hohes Maß an Testbarkeit und Zuverlässigkeit aufweist, wenn dies für die beabsichtigte Anwendung erforderlich ist. Insbesondere wird das abstrakte Schaltungsmodell in Abschn. 2.1 präsentiert und die Prinzipien des Schaltungstests werden in Abschn. 2.2 beschrieben. Dies beinhaltet den Strukturtest in Abschn. 2.2.1 und den Funktionstest in Abschn. 2.2.2.

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Um die folgenden Beschreibungen zu erleichtern, wird eine einzelne Takt-Domäne angenommen. Alle in diesem Buch vorgeschlagenen Techniken können jedoch auf weitere Takt-Domänen erweitert werden.

Im weiteren Verlauf dieser Arbeit wird ein Teststimulus als Testmuster bezeichnet.

Beachten Sie, dass das Konzept des FSM ausführlich in Abschn. 3.6 auf Seite 49 vorgestellt wird.

Title: Integrierte Schaltkreise
Authors: Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Publisher: Springer International Publishing
Book: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright Year: 2023
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_2