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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

2. Integrierte Schaltkreise

verfasst von : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Erschienen in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Verlag: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Dieses Kapitel führt die grundlegenden Prinzipien des IC-Designs und -Tests ein. Darüber hinaus werden Messungen vorgestellt, die sicherstellen, dass das spätere IC-Design ein hohes Maß an Testbarkeit und Zuverlässigkeit aufweist, wenn dies für die beabsichtigte Anwendung erforderlich ist. Insbesondere wird das abstrakte Schaltungsmodell in Abschn. 2.1 präsentiert und die Prinzipien des Schaltungstests werden in Abschn. 2.2 beschrieben. Dies beinhaltet den Strukturtest in Abschn. 2.2.1 und den Funktionstest in Abschn. 2.2.2.

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Fußnoten
1
Um die folgenden Beschreibungen zu erleichtern, wird eine einzelne Takt-Domäne angenommen. Alle in diesem Buch vorgeschlagenen Techniken können jedoch auf weitere Takt-Domänen erweitert werden.
 
2
Im weiteren Verlauf dieser Arbeit wird ein Teststimulus als Testmuster bezeichnet.
 
3
Beachten Sie, dass das Konzept des FSM ausführlich in Abschn. 3.​6 auf Seite 49 vorgestellt wird.
 
Metadaten
Titel
Integrierte Schaltkreise
verfasst von
Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Copyright-Jahr
2023
Buch
Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_2

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