Skip to main content

2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

2. Was wir über den Aufbau eines Elektronenmikroskops und Elektronenoptik wissen sollten

verfasst von : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Erschienen in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Ziel

Wenn in diesem Buch vom Elektronenmikroskop geschrieben wird, dann ist damit immer das Transmissionselektronenmikroskop gemeint und nicht das Rasterelektronenmikroskop. Damit geht es um ein Mikroskop im engeren Sinn, d. h. um ein Gerät, in dem ein Gegenstand, nämlich die zu untersuchende Probe, durchstrahlt und optisch abgebildet wird. Ungeachtet dessen kann in diesem Mikroskop der Elektronenstrahl auch auf die Probe fokussiert und gerastert werden (STEM – s. Kap. 8). Es bleibt aber bei der Durchstrahlung der Probe. Das Transmissionselektronenmikroskop ist im Prinzip wie ein (Durchstrahlungs-)Lichtmikroskop aufgebaut. Davon ausgehend werden wir uns in diesem Kapitel mit einigen elektronenoptischen Gesetzmäßigkeiten, Abbildungsfehlern und wichtigen Baugruppen des Elektronenmikroskops befassen.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Fußnoten
1
Hendrik Antoon Lorentz, niederländischer Mathematiker und Physiker, 1853–1928, Nobelpreis für Physik 1902.
 
2
Otto Scherzer, deutscher Physiker und Elektronenoptiker, 1909–1982.
 
3
Carl Friedrich Gauß, deutscher Mathematiker und Physiker, 1777–1855.
 
4
André-Marie Ampére, französischer Physiker, 1775–1836.
 
5
Wolfgang Pauli, österreichischer Physiker, 1900–1958, Nobelpreis für Physik 1945.
 
6
Enrico Fermi, italienisch/amerikanischer Physiker, 1901–1954, Nobelpreis für Physik 1938.
 
7
Owen Willians Richardson, englischer Physiker, 1879–1959, Nobelpreis für Physik 1928.
 
8
Ludwig Boltzmann, österreichischer Physiker, 1844–1906.
 
9
Walter Schottky, deutscher Physiker, 1886–1976.
 
10
Hans Boersch, deutscher Physiker, 1909–1986.
 
11
Arthur Wehnelt, deutscher Physiker, 1871–1944.
 
12
1939 eingeführt von E. Ruska  und B. von Borries.
 
13
August Köhler, deutscher Optiker, 1866–1948.
 
14
Jean Peltier, französischer Physiker, 1785–1845. Der nach ihm benannte Effekt ist ein thermoelektrischer Effekt.
 
15
Amedeo Avogadro, italienischer Mathematiker und Physiker, 1776–1856.
 
16
James Clerk Maxwell, schottischer Physiker, 1831–1879.
 
17
Robert Brown, schottischer Botaniker, 1773–1858.
 
18
Marcello Pirani, deutscher Physiker, 1880–1968.
 
19
Frans Michel Penning, niederländischer Physiker, 1894–1953.
 
Literatur
1.
Zurück zum Zitat Scherzer, O.: Über einige Fehler von Elektronenlinsen. Z. Phys. 101, 593–603 (1936)ADSCrossRef Scherzer, O.: Über einige Fehler von Elektronenlinsen. Z. Phys. 101, 593–603 (1936)ADSCrossRef
2.
Zurück zum Zitat Haider, M., Müller, H., Uhlemann, S., Zach, J., Loebau, U., Hoeschen, R.: Prerequisites for a \( \rm C_C / C_S \)-corrected ultrahigh-resolution TEM. Ultramicroscopy 108, 167–178 (2008)CrossRef Haider, M., Müller, H., Uhlemann, S., Zach, J., Loebau, U., Hoeschen, R.: Prerequisites for a \( \rm C_C / C_S \)-corrected ultrahigh-resolution TEM. Ultramicroscopy 108, 167–178 (2008)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat Boersch, H.: Experimentelle Bestimmung der Energieverteilung in thermisch ausgelösten Elektronenstrahlen. Z. Phys. 139, 115–146 (1954)ADSCrossRef Boersch, H.: Experimentelle Bestimmung der Energieverteilung in thermisch ausgelösten Elektronenstrahlen. Z. Phys. 139, 115–146 (1954)ADSCrossRef
4.
Zurück zum Zitat Bronsgeest, M.S., Barth, J.E., Schwind, G.A., Swanson, L.W., Kruit, P.: Extracting the Boersch effect contribution from experimental energy spread measurements for Schottky electron emitters. J. Vac. Sci. Technol. B25(6), 2049–2054 (2007)CrossRef Bronsgeest, M.S., Barth, J.E., Schwind, G.A., Swanson, L.W., Kruit, P.: Extracting the Boersch effect contribution from experimental energy spread measurements for Schottky electron emitters. J. Vac. Sci. Technol. B25(6), 2049–2054 (2007)CrossRef
Metadaten
Titel
Was wir über den Aufbau eines Elektronenmikroskops und Elektronenoptik wissen sollten
verfasst von
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright-Jahr
2023
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_2

Neuer Inhalt