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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

3. Wir präparieren elektronentransparente Proben

verfasst von : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Erschienen in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Ziel

Transmissionselektronenmikroskopie wird in der Regel gleichgesetzt mit moderner Gerätetechnik, Elektronenoptik auf dem neuesten Stand, Interpretation neuartiger Ergebnisse; auch über Sinn und Zweck des Ganzen wird diskutiert. Bei Neueinrichtung eines elektronenmikroskopischen Labors ist aber unbedingt zu beachten, dass für die Transmissionselektronenmikroskopie geeignete dünne Proben benötigt werden und die Präparation solcher Proben alles andere als einfach und selbstverständlich ist. Dieses Kapitel gibt einen Überblick über geeignete Präparationsmethoden.

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Nächstes Kapitel Wir beginnen mit der praktischen Arbeit
Fußnoten
1
Charles Augustin de Coulomb, französischer Physiker, 1736–1806.
 
2
Supraleiter leiten den elektrischen Strom unterhalb einer Sprungtemperatur ohne elektrischen Widerstand. Bei klassischen Supraleitern (Metallen) liegt diese Temperatur bei wenigen K. Bei Hochtemperatur-Supraleitern liegt sie deutlich höher, z. B. oberhalb von \(77~\textrm{K} = -196\,^{\circ }\)C (Temperatur von flüssigem Stickstoff).
 
3
Helmut Ruska, deutscher Mediziner, 1908–1973, Bruder von Ernst Ruska.
 
Literatur
1.
Lang, G.: Histotechnik – Praxislehrbuch für die biomedizinische Analytik. Springer, Wien (2006)
2.
Allen, T.D. (Hrsg.): Introduction to Electron Microscopy for Biologists. Academic Press, Elsevier Inc. (2008)
3.
4.
Bethge, H.: Oberflächenstrukturen und Kristallbaufehler im elektronenmikroskopischen Bild, untersucht am NaCl. Phys. Status Solidi (b) 2, 3–27 und 775–820 (1962)
5.
Galetzka, W., Gnägi, H., Godehardt, R., Lebek, W., Michler, G.H., Vastenhout, B.: Ultramikrotomie in der Materialforschung. Hanser, München (2004)
6.
McCaffrey, J.P.: Small-angle cleavage of semiconductors for transmission electron microscopy. Ultramicroscopy 38, 149–157 (1991)
7.
Benedict, J., Anderson, R., Klepeis, S.J.: Recent developments in the use of the tripod polisher for TEM specimen preparation. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials-III. MRS Sympos. Proc. 254, 121–140 (1992). https://​doi.​org/​10.​1557/​PROC-254-121
8.
Kirchner, A., Thomas, J., Gutfleisch, O., Hinz, D., Müller, K.-H., Schultz, L.: HRTEM studies of grain boundaries in die-upset Nd-Fe-Co-Ga-B magnets. J. Alloys Compd. 365, 286–290 (2004)
Metadaten
Titel
Wir präparieren elektronentransparente Proben
verfasst von
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright-Jahr
2023
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Print ISBN: 978-3-662-66722-4

Electronic ISBN: 978-3-662-66723-1

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_3