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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

9. Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten

verfasst von : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Erschienen in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Ziel

Bei allen bisher beschriebenen Abbildungsvarianten und Kontrastphänomenen wurde im Transmissionselektronenmikroskop die elastische Streuung der Elektronen im Festkörper, d. h. die Wechselwirkung ohne Energieverlust, ausgenutzt. Inelastische Streuprozesse, d. h. solche, bei denen die Strahlelektronen Energie verlieren, waren unerwünscht. Sie führen zu Änderungen der Elektronenwellenlänge und damit zu Auflösungsverlust durch chromatische Aberration und zu stärkerem Untergrund in den Beugungsbildern. Andererseits sind inelastische Wechselwirkungen häufig elementspezifisch, d. h. ihre Ergebnisse hängen davon ab, welchem Element das wechselwirkende Atom angehört. Damit wird eine chemische Analyse im Nanometerbereich möglich. Wir werden den inelastischen Streuprozess erläutern, die zu dessen praktischer Nutzung erforderlichen Spektrometer und Verfahren beschreiben und schließlich einige Beispiele anführen.

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Fußnoten
1
Charles Augustin de Coulomb, französischer Physiker, 1736–1806
 
2
Ernest Rutherford, neuseeländisch/englischer Physiker, 1871–1937, Nobelpreis für Chemie 1908
 
3
Niels Bohr, dänischer Physiker, 1885–1962, Nobelpreis für Physik 1922
 
4
James Clerk Maxwell, schottischer Physiker, 1831–1879
 
5
Max Planck, deutscher Physiker, 1858–1947, Nobelpreis für Physik 1918, gilt als Begründer der Quantenphysik
 
6
Wilhelm Conrad Röntgen, deutscher Physiker, 1845–1923, Nobelpreis für Physik 1901 (erster Physik-Nobelpreis)
 
7
Hendrik Anthony Kramers, niederländischer Physiker, 1894 – 1952
 
8
Louis de Broglie, französischer Physiker, 1892–1987, Nobelpreis für Physik 1929
 
9
Wolfgang Pauli, österreichischer Physiker, 1900–1958, Nobelpreis für Physik 1945
 
10
Erwin Schrödinger, österreichischer Physiker, 1887–1961, Nobelpreis für Physik 1933
 
11
William Henry Bragg und William Lawrence Bragg: australisch/englische Physiker (Vater und Sohn), 1862–1942 bzw. 1890–1971, Nobelpreis für Physik 1915
 
12
Henry Augustus Rowland, amerikanischer Physiker, 1848–1901
 
13
Carl Friedrich Gauß, deutscher Mathematiker und Physiker, 1777–1855
 
14
Jean Peltier, französischer Physiker, 1785–1845
 
15
Sir James Dewar, schottischer Physiker, 1842–1923
 
16
Hendrik Antoon Lorentz, niederländischer Mathematiker und Physiker, 1853–1928, Nobelpreis für Physik 1902
 
17
Joseph I. Goldstein, amerikanischer Materialwissenschaftler, 1939–2015
 
18
Paul Dirac, britischer Physiker, 1902–1954, Nobelpreis für Physik 1933
 
19
Walter Schottky, deutscher Physiker, 1886–1976
 
20
Wilhelm Wien: deutscher Physiker, 1864–1928, Nobelpreis für Physik 1911
 
21
Werner Heisenberg, deutscher Physiker, 1901–1976, Nobelpreis für Physik 1932
 
22
Gregor Wentzel, deutscher Physiker, 1898–1978
 
23
Hans Bethe, deutsch/amerikanischer Physiker, 1906–2005, Nobelpreis für Physik 1967
 
Literatur
1.
Kramers, H.A.: On the theory of X-ray absorption and of the continuous X-ray spectrum. Phil. Mag. 46, 836–871 (1923)CrossRef
2.
Kreher, K.: Festkörperphysik, Akademie-Verlag, Berlin (1976), 25ff
3.
Gatti, E., Rehak, P.: Semiconductor drift chamber – an application of a novel charge transport scheme, Nuclear Instr. and Methods in Physics Research 225, 608–614 (1984)
4.
Lechner, P., Eckbauer, S., Hartmann, R., Krisch, S., Hauff, D., Richter, R., Soltau, H., Struder, L., Fiorini, C., Gatti, E., Longoni, A., Sampietro, M.: Silicon drift detectors for high resolution room temperature X-ray spectroscopy, Nuclear Instr. and Methods in Physics Research A 377, 346–351 (1996)
5.
Rose, A.: The Sensitivity Performance of the Human Eye on an Absolute Scale. J. Opt. Soc. America. 38, 196–208 (1948)ADSCrossRef
6.
Cliff, G., Lorimer, G.W.: The quantitative Analysis of thin specimens. Journ. of Microscopy 103, 203–207 (1975)CrossRef
7.
Horita, Z., Sano, T., Nemoto, M.: Determination of the Absorption-Free kANi Factors for Quantitative Microanalysis of Nickel Base Alloys. J. Electron Microsc. 35, 324–334 (1986)
8.
Thomas, J., Gemming, T.: Shells on nanowires detected by analytical TEM. Appl. Surf. Science 252, 245–251 (2005)ADSCrossRef
9.
Goldstein, J. I.: Principles of Thin Film X-ray Microanalysis, in: Introduction to Analytical Electron Microscopy, Eds. Hren, J. J., Goldstein, J. I., Joy, D. C., Plenum Press, New York, S. 101 (1979)
10.
Thomas, J., Rennekamp, R., van Loyen, L.: Characterization of multilayers by means of EDXS in the analytical TEM. Fres. J. Anal. Chem. 361, 633–636 (1998)CrossRef
11.
Fan, X., Dickey, E.C., Pennycook, S.J., Sunkara, M.K.: Z-contrast imaging and electron energy-loss spectroscopy analysis of chromium doped diamond-like carbon films. Appl. Phys. Let. 75, 2740–2742 (1999)ADSCrossRef
12.
Röntzsch, L., Heinig, K.-H., Schmidt, B., Mücklich, A., Möller, W., Thomas, J., Gemming, T.: Direct evidence of self-aligned Si nanocrystals formed by ion irradiation of Si/SiO\( _2 \) interfaces". Phys. Stat. Sol. (a) 202(15), R170–R172 (2005)
13.
Egerton, R.F.: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd edn., p. 305. Plenum Press, New York, London (1996)CrossRef
14.
Iakoubovskii, K., Mitsuishi, K., Nakayama, Y., Furuya, K.: Thickness Measurements with Electron Energy Loss Spectroscopy. Microsc. Research Techn. 71, 626–631 (2008)CrossRef
15.
16.
Kohn, W., Sham, L.J.: Self-consistent Equations including Exchange and Correlation Effects. Phys. Rev. 140, 1133–1138 (1965)ADSMathSciNetCrossRef
17.
Rez, P., Alvarez, J.R., Pickard, C.: Calculation of near edge structure“. Ultramicroscopy 78, 175–183 (1999)CrossRef
18.
Hérbert, C., Luitz, J., Schattschneider, P.: Improvement of energy loss near edge structure calculation using Wien2k. Micron 34, 219–225 (2003)CrossRef
19.
Serin, V., Colliex, C., Brydson, R., Matar, S., Boucher, F.: EELS investigation of the electron conduction-band states in wurtzite AlN and oxygen-doped AlN(O). Phys. Rev. B 58, 5106–5115 (1998)ADSCrossRef
20.
Contreras, O., Duarte-Moller, A., Hirata, G.A., Avalos-Borja, M.: EELS characterization of TiN by the DC sputtering technique. Journ. Electron Spec. and Rel. Phenom. 105, 129–133 (1999)CrossRef
21.
Riedl, T., Gemming, T., Wetzig, K.: Extraction of EELS white-line intensities of manganese compounds: Methods, accuracy, and valence sensitivity. Ultramicroscopy 106, 284–291 (2006)CrossRef
22.
Riedl, T., Gemming, T., Gruner, W., Acker, J., Wetzig, K.: Determination of manganese valency in La\( _{1-x} \)Sr\( _x \)MnO\( _3 \). Micron 38, 224–230 (2007)CrossRef
23.
24.
Spence, J.C.H.: Taftø, J: ALCHEMI: a new technique for locating atoms in small crystals. Journ. of Microscopy 130, 147–154 (1983)
25.
Reimer, L. (Ed.): Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy. Springer-Verlag, Berlin, S. 9 (1995)
26.
Hofer, F.: Inner-Shell Ionization, ebenda, S. 225
27.
Egerton, R. F.: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd Edition, Plenum Press, New York, London, S. 334ff. (1996)
28.
Rez, P.: Electron Ionisation Cross sections for Atomic Subshells. Microsc. Microanal. 9, 42–53 (2003)ADSCrossRef
29.
Hofer, F.: Determination of inner-shell cross-sections for EELS-quantification. Microsc. Microanal. Microstruct. 2, 215–230 (1991)CrossRef
30.
Thomas, J. Ramm, J., Gemming, T.: Density measurement of thin layers by electron energy loss spectroscopy (EELS), Micron 50, 57-61 Micron 50 (2013)
Metadaten
Titel
Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten
verfasst von
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright-Jahr
2023
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Print ISBN: 978-3-662-66722-4

Electronic ISBN: 978-3-662-66723-1

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_9

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