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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

8. Verbesserte Zuverlässigkeit durch formale Techniken

verfasst von : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Erschienen in: Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Verlag: Springer International Publishing

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Zusammenfassung

Mehrere Durchbrüche auf dem Gebiet des Entwurfs, der Herstellung und des Tests von integrierten Schaltkreisen ermöglichten die Implementierung von hochkomplexen ICs. Diese ICs erfüllen mehrere missions- oder sogar sicherheitskritische Aufgaben gleichzeitig und folgen dabei einem hochkomplexen funktionalen Verhalten.

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Fußnoten
1
Beachten Sie, dass es viele Techniken gibt, die den erreichbaren Zustandsraum von digitalen Schaltkreisen approximieren und daher die Laufzeit erheblich verbessern können [Gru+05, McM03, RS95]. Sie werden jedoch in dieser Arbeit nicht berücksichtigt, um die Darstellung klar zu halten.
 
2
Beachten Sie, dass diese FF-Stufe eine erforderliche Verzögerung von einem Taktzyklus einführt.
 
3
Beachten Sie, dass die Grenze u nicht überschritten wurde.
 
4
Wenn kein Balken angezeigt wird, wird ein Hardware-Mehraufwand von 0 % oder nahe 0 % gemessen.
 
5
Beachten Sie, dass die anfängliche Robustheit auf die Struktur des Schaltkreises und genauer gesagt auf die implizit gegebenen Redundanzen zurückzuführen ist, wie in [TD09] beobachtet.
 
Metadaten
Titel
Verbesserte Zuverlässigkeit durch formale Techniken
verfasst von
Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Copyright-Jahr
2023
Buch
Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit

Print ISBN: 978-3-031-45318-2

Electronic ISBN: 978-3-031-45319-9

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-031-45319-9_8

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